在硬盤規(guī)格中，有一項(xiàng)常見的指標(biāo)“MTTF”，即“平均無(wú)故障時(shí)間”，或者說“失效前平均時(shí)間”。一般來(lái)說，這一時(shí)間能達(dá)到上百萬(wàn)小時(shí)，不過卡內(nèi)基梅隆大學(xué)的研究人員在舊金山的第五屆USENIX Conference大會(huì)上指出，對(duì)經(jīng)過對(duì)大約10萬(wàn)塊硬盤進(jìn)行研究后的結(jié)論是：硬盤產(chǎn)品的實(shí)際失效幾率是MTTF指標(biāo)的15 倍之多。

　　卡內(nèi)基梅隆大學(xué)學(xué)者Bianca Schroeder與Garth Gibson撰文指出：如果按照MTTF為100-150萬(wàn)小時(shí)計(jì)算，那么即使在最壞的情況下，硬盤每年的失效率不過0.88％，但在研究了各種大型生產(chǎn)系統(tǒng)、互聯(lián)網(wǎng)服務(wù)網(wǎng)站等地的硬盤后發(fā)現(xiàn)，實(shí)際數(shù)字一般都會(huì)超過1％，通常在2-4％左右，在某些極端情況下甚至高達(dá)13％ 以上，甚至24％。 研究表明，人們有時(shí)太過相信硬盤廠商提供的數(shù)據(jù)，卻不知硬盤的實(shí)際工作環(huán)境對(duì)其“平均無(wú)故障時(shí)間”有著極大的影響。

　　另外，目前在企業(yè)級(jí)的存儲(chǔ)解決方案中，人們普遍傾向于SCSI硬盤與FC硬盤。SCSI硬盤的特點(diǎn)是接口速度快，硬盤轉(zhuǎn)速快，緩存容量大，CPU占用率低，擴(kuò)展性遠(yuǎn)優(yōu)于IDE硬盤，并且支持熱插拔。由于其性能好、穩(wěn)定性高，在服務(wù)器上得到廣泛應(yīng)用。同時(shí)其價(jià)格也極其昂貴。

　　FC硬盤名稱由于通過光學(xué)物理通道進(jìn)行工作，因此起名為光纖硬盤，關(guān)于光纖硬盤以其的優(yōu)越的性能、穩(wěn)定的傳輸，也在企業(yè)存儲(chǔ)高端應(yīng)用中擔(dān)當(dāng)重要角色。從數(shù)據(jù)手冊(cè)上看，這兩種硬盤的性能都比普通的SATA硬盤更加可靠，是高端企業(yè)級(jí)用戶的良好選擇。但是事實(shí)卻并非如此。研究還發(fā)現(xiàn)，更快、更貴的光纖通道硬盤并不一定就比普通SATA硬盤更可靠。

　　另外，大概50％之多的返修硬盤實(shí)際上都沒有任何問題，分析人士和硬盤廠商也有類似觀點(diǎn)。

　　研究人員之一GarthGibson指出，他們這份報(bào)告的目的不僅是敦促硬盤廠商改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)，更希望他們能同時(shí)改善產(chǎn)品測(cè)試。他還表示，他們并非要區(qū)分各家硬盤廠商的質(zhì)量高低，也不是追蹤硬盤的實(shí)際故障率，而是給用戶一個(gè)參考，讓大家明白硬盤可能會(huì)在什么時(shí)候出現(xiàn)問題。

　　大會(huì)上的另一項(xiàng)報(bào)告則提出，Google的研究人員對(duì)SMART進(jìn)行了深入研究，SMART的全稱為“Self-Monitoring，Analysis and Rep orting Technology”，即“自我監(jiān)測(cè)、分析及報(bào)告技術(shù)”。支持SMART技術(shù)的硬盤可以通過硬盤上的監(jiān)測(cè)指令和主機(jī)上的監(jiān)測(cè)軟件對(duì)磁頭、盤片、馬達(dá)、電路的運(yùn)行情況、0歷史記錄及預(yù)設(shè)的安全值進(jìn)行分析、比較。當(dāng)出現(xiàn)安全值范圍以外的情況時(shí)，就會(huì)自動(dòng)向用戶發(fā)出警告。研究表明，支持SMART技術(shù)的硬盤向用戶發(fā)出警告后，硬盤在兩個(gè)月內(nèi)發(fā)生故障的機(jī)率比未報(bào)錯(cuò)硬盤高39倍。同時(shí)指出，溫度因素對(duì)硬盤可靠性的影響看起來(lái)微乎其微。

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